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  • 元器件浪涌电流测试仪
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    元器件浪涌电流测试仪

    型号:CSG-510

      全自动半导体浪涌电流测试仪CSG-510用于评估半导体钳位吸收元件性能。

    应用领域:

    手机、安防等行业对浪涌保护元件进行检测

    产品特点技术参数产品标准

    ·7寸触摸LCD界面,功能丰富,操作方便,软件易升级

    ·用户可编程测试程序,多达1000组记忆

    ·内置耦合退耦网络

    ·内置波形检测衰减器,可以直接用示波器观察

    ·智能型程控高压电源,内置高压过压、过流、短路保护

    开路输出电压

    1kV (Max) ±5%

    波前时间

    1.2μs ±30%,慢前沿可以定制

    脉冲半峰值时间

    50μs ±20%

    短路输出电流

    最大500A ±5%(2欧姆阻抗时)

    波前时间

    8μs ±20%

    脉冲半峰值时间

    20μs ±20%

    输出极性

    正、负,正负循环,正负交替,先正后负,先负后正

    输出阻抗

    2Ω,12Ω,24Ω±10%

    浪涌触发方式

    自动或手动,可单次触发

    浪涌发生次数

    1-9999次

    可编程测试程序

    内置IEC标准及用户自定义程序,多达1000组

    浪涌间隔时间

    3-9999s

    内置网络耦合方式

    直接耦合、二极管/二极管、二极管/电感、电容/电感、电容/二极管

    使用环境

    温度:15°C-35°C相对湿度10%-75%

    系统电源

    AC220±10%,50/60Hz

    外形尺寸

    宽470mm×高260mm×深500mm

    整机重量

    约20kg

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